손상의 주요 원인은 뇌격전류와 뇌격전류에 의한 자계이며, 이 자계는 뇌격전류와 같은 파형을 갖는다.

 

손상대상물
단지 서지와 자계에 대한 제한된 내력을 갖는 구조물 또는 구조물 내부에 설치된 내부 시스템은 뇌격과 수반되는 자계의 영향을 받을 때 손상을 입게 되거나 비정상적으로 동작한다.
구조물 외부에 설치한 시스템이 만약 노출된 장소에 위치한다면 감쇠되지 않은 자계와 직격뢰의 전 뇌격 전류로 된 서지에 의해 위험에 처할 수 있다. 구조물 내부에 설치한 시스템은 남아 있는 감쇠된 자계와 전도 또는 유도 내부서지 및 인입선을 통해 전도된 외부서지에 의해 위험에 처할 수 있다.
기기 내력에 관한 세부사항은 다음의 규격과 관련된다.
  *전원설비의 내력은 KS C IEC 60664-1에 정의
  *통신장비의 내력은 ITU-T K.20과 K.21에 정의
  *일반 기기의 내력은 제품규격에 정의되어 있거나 다음과 같은 조건으로 시험될 수 있다.

 - 1.2/50 ㎲ 파형의 시험전압 : 0.5-1-2-4 kV 및 8/20㎲ 파형의 시험전류: 0.25-0.5-1-2 kA로 KS C IEC 610
00-4-9에 따르는 전도서지에 대한 시험.
 >특정 기기에 대하여 앞에서 언급한 규격의 요건을 만족시키기 위하여, 요건들은 내부 SPD에 부합되도록 한다.
이런 내부 SPD의 특성은 협조요건에 영향을 미치게 된다.
- 100-300-1000 A/m의 8/20㎲ 파형으로 KS C IEC 61000-4-9 및 10-30-100A/m의 1MHz파형으로 KS C IEC
61000-4-10을 이용한 자계에 대한 시험.
관련 EMC 제품규격으로 정의된 것처럼 무선 주파수(RF), 방사성분 방출 및 내성 시험에 따르지 않는 장비는
장비 내부로 직접 방사된 자계에 의해 위험에 처할 수 있다. 한편 이들 규격에 따르는 장비의 고장은 무시할 수
있다.