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[기술자료] Transient/Surge에 의한 피해 현상

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작성자 관리자 댓글 0건 조회 1,364회 작성일 19-12-13 09:47

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Transient/Surge에 의한 피해 현상

 
컴퓨터와 민감한 전자장비 설계자들은 설계 시 정상적인 설계 허용치 범위 내에서 전력부하 변수를 견딜 수 있도록 제품을 제작한다. 설계자들은 설계 한계를 초과 하는 심각한 Line surge나 내부의 surge에 대한 대책을 세울 수가 없다. 실제로 문제가 발생하는 것을 보면, Transient/Surge 현상에 의해 컴퓨터나 마이크로프로세서에 입력된 많은 데이터가 바뀌어서 운전 중에 에러가 나타나거나 반도체 소자들이 파손된다.

Transient/Surge에 의한 피해
- 수시 메모리 소실(Random memory loss)
- 전면적인 메모리 소실 (Total memory loss) 
- 프로그램이 건너 뛰거나 점프하는 현상(Program skips and jumps)
- 저장된 자료의 재생 불가
- 전기 부품의 고장
- 작동 거부
- 시스템의 충돌
- 회로판이 부풀어 지거나 끊어 짐
- 예상치 못한 고장